目的 分析儿童及青少年药物难治性额叶癫痫(FLE)患者术后急性发作(APOS)的发生率、风险因素及术后长期疗效.方法 回顾性分析2009年1月至2011年9月在首都医科大学宣武医院功能神经外科行额叶致痫灶切除后,随访≥3年的药物难治性儿童及青少年(年龄≤21岁)FLE患者51例.分析术后APOS的风险因素及对长期疗效的影响;应用Kaplan-Meier生存曲线分析所有患者术后无发作的比率.结果 51例患者中,11例(21.6％)出现了APOS.APOS组与非APOS组比较,手术部位为额后中央区的患者更易出现APOS(P =0.020),而两组的性别、发病年龄、手术年龄、病程、是否继发全身强直阵挛发作(sGTCS)、术前MRI有无病损、术前和术后发作间期脑电图(EEG)、是否埋置颅内电极、手术侧别、局灶性皮质发育不良(FCD)比较,差异均无统计学意义(P＞0.05).所有患者随访36～68个月,平均为(48.5±10.3)个月.随访期,APOS组无一例发作消失,非APOS组21例无发作,差异有统计学意义(P =0.005).51例患者术后6个月、1年、2年、3年及5年无发作的比率分别为54.9％,49.0％,43.1％,41.2％及41.2％.术前MRI检查额叶有明确病损的患者,术后5年不发作的比率为50.0％,略高于MRI正常者的33.3％,但差异无统计学意义(P =0.169).术后病理学结果为FCD的患者,术后5年不发作的比率为42.9％,非FCD者为40.0％,差异无统计学意义(P =0.814).结论 儿童和青少年额叶癫痫患者可以通过外科手术获得较好的疗效,术后出现APOS的患者长期随访疗效较差.