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文章类型：
机构：
[1]首都医科大学宣武医院功能神经外科,北京市功能神经外科研究所,北京 100053
神经外科
首都医科大学宣武医院
出处：
ISSN：
关键词：
并发症
脑深部电刺激
硬件相关
摘要：
目的 总结分析脑深部电刺激术(deep brain stimulation,DBS)后和硬件相关并发症发生原因及改进方法.方法 回顾性总结221例DBS术后病人和硬件相关并发症的发生情况.2例病人凶颅内出血没有统计在内.219例病人共植入328侧电极.结果 随访时间3-35个月,平均16.1个月.219例病人共发生和DBS硬件相关的并发症26例(11.9%)涉及21侧电极(6.4%).切口感染和(或)破溃12例(5.5%),异物反应2例(0.9%),电极短路和断路4例(1.8%),脑脊液漏3例(1.4%),电极移位5例(2.3%).其中切口感染和(或)破溃的发生率最高.结论 通过对DBS和硬件相关并发症的分析表明上述并发症的发生率是十分可观的.预防减少并发症的发生和改进处理方法 可以使DBS更充分地发挥其治疗作用.
第一作者：
第一作者机构：
[1]首都医科大学宣武医院功能神经外科,北京市功能神经外科研究所,北京 100053
通讯作者：
通讯机构：
[1]首都医科大学宣武医院功能神经外科,北京市功能神经外科研究所,北京 100053
推荐引用方式(GB/T 7714)：
李建宇,张宇清,李勇杰.221例脑深部电刺激术后和硬件相关并发症分析[J].中华神经外科杂志.2009,25(7):608-610.
