摘要：
传统的短暂性脑缺血发作(TIA)的概念是指大脑局灶性或区域性缺血产生的神经功能缺失症状,并在24h内完全消失.TIA的新定义,即由于局部脑或视网膜缺血所引起的短暂性的神经功能缺损发作,典型的临床症状持续不超过1h,且无脑梗死的证据[1].王默力等[2]应用单光子发射电子计算机断层成像术(SPECT)、电子发射体层扫描(PET)等检查手段,初步提出TIA间期仍存在脑血流低灌注状态,间期亦可见脑功能局部减低区.随着功能核磁的发展,氢质子磁共振波谱(1H-MRS)成为可以无创地活体分析组织代谢和生化改变的有效手段.应用卒中的研究可以定量地反映脑组织神经细胞内的生化代谢改变,并可作为评价卒中预后的指标之一.国内外关于TIA间期1H-MRS的脑代谢研究均处于初级阶段,我们就此方面的研究进展综述如下.
