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[1]100050北京首都医科大学附属北京天坛医院神经介入科
诊疗科室
神经介入中心
首都医科大学
首都医科大学附属北京天坛医院
首都医科大学附属天坛医院
[2]北京市神经外科研究所
研究所
北京市神经外科研究所
首都医科大学附属天坛医院
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关键词：
高分辨率磁共振成像
颅内动脉瘤
破裂风险
摘要：
颅内动脉瘤发病机制仍未完全研究清楚,但血流动力学改变和炎症反应被认为在颅内动脉瘤的发生发展过程中扮演了重要角色.动脉瘤壁退行性改变则是上述因素作用的最终共同通路.目前临床上评价手段如计算机断层扫描血管成像、磁共振血管造影、数字减影血管造影,都是基于血流成像,无法反映动脉瘤壁的信息.近年来,随着磁共振设备场强逐渐增高以及分子对比剂的发展,高分辨率磁共振成像在评价血管炎症反应和滋养血管增生方面发挥越来越重要的作用.本文对高分辨率磁共振成像在评估颅内动脉瘤破裂风险中的相关进展进行了综述.
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第一作者：
第一作者机构：
[1]100050北京首都医科大学附属北京天坛医院神经介入科
[2]北京市神经外科研究所
通讯作者：
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[1]100050北京首都医科大学附属北京天坛医院神经介入科
[2]北京市神经外科研究所
推荐引用方式(GB/T 7714)：
刘鹏,李佑祥,吕明.高分辨率磁共振成像应用于临床颅内动脉瘤风险评估的研究进展[J].中国卒中杂志.2018,13(10):1057-1062.
