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短暂性脑缺血发作患者脑葡萄糖代谢减低类型及其临床意义的初步研究

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收录情况: ◇ 统计源期刊

机构: [1]首都医科大学宣武医院PET中心 [2]北京中医药大学东直门医院核医学科
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关键词: 短暂性脑缺血发作 正电子发射断层扫描 脱氧葡萄糖 统计参数图

摘要:
目的 利用正电子发射断层扫描(PET)和统计参数图(SPM)对短暂性脑缺血发作(TIA)进行分型;通过观察治疗后反应,探讨分型的临床意义.方法 ①选择临床诊断为TIA的患者86例(TIA组),正常对照组39例,2组均行18F标记的氟代脱氧葡萄糖(18F-FDG)脑PET显像,利用SPM对TIA患者进行分型.②从86例TIA患者中随机抽取31例行药物治疗(氯吡格雷+银杏叶)(治疗组),并于停药后1周内行第2次脑PET显像,利用SPM观察各型的治疗效果.结果 ①根据代谢减低的部位和程度,将TIA患者分为3种类型,即单侧单灶型(Ⅰ型),单侧多灶型(Ⅱ型)以及双侧多灶型(Ⅲ型).②治疗组中,Ⅰ型治疗效果最好(20例经治疗后,代谢减低的范围和程度均出现明显好转,其中11例完全恢复正常).Ⅲ型治疗效果最差(4例经治疗后,1例代谢减低的范围和程度未见改变,3例加重).结论 ①利用SPM对PET图像进行分析,可以将TIA患者分为3种类型,以Ⅰ型最多见.②对于Ⅰ型患者,可行药物治疗;对于Ⅱ型和Ⅲ型患者,尤其是Ⅲ型患者,需引起高度重视,必要时应行外科治疗以及血管内支架成型术,避免缺血性脑血管事件的发生.

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第一作者:
第一作者机构: [1]首都医科大学宣武医院PET中心
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